半导体电性能测试仪器国产P系列源表

半导体电性能测试仪器国产P系列源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达30A，Z大输出电压达300V，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。PXOOB系列源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

脉冲源表特点

•5寸触摸显示屏全图形化操作
•内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
•源及测量的准确度为0.03%
•四象限工作（源和阱），源及测量范围广：电流低1pA，电压高300V
•Z小脉冲宽度200μs
•丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
•支持USB存储，一键导出测试报告
•支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

脉冲源表应用
•分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等
•能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
•传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

•有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

•纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

更多有关半导体电性能测试仪器国产P系列源表的信息找普赛斯仪表，普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品，集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。普赛斯“五合一”高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉，都能简单而迅速地得到精确的结果。

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