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电学特性测试系统国产半导体参数测试仪

具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有着越的测量效率与可靠性

  • 产品单价: 1000.00元/台
  • 产品产地:

    湖北省 武汉市

  • 产品类别:

    切割设备

  • 广告期限:

    长期有效

  • 更新时间: 2026-01-12 13:45
  • 中商贸易网人工采购咨询热线: 该企业待认证
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电学特性测试系统国产半导体参数测试仪

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SPA6100国产半导体参数测试仪

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liv特性曲线测试恒流脉冲源

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产品参数

产品货号:无 产品规格:SPA6100
发货期限:自买家付款之日起 3 天内发货 所在地区:湖北省 武汉市
有效期至: 长期有效 品牌名称:

详情介绍

SPA6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有着越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计,SPA6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持蕞高1200V电压、30A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测1kHz2MHz范围内的多频AC电容测量。

SPA6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。


产品特点

30μV-1200V,1pA-30A宽量程测试能力

测量精度高,蕞高可达0.1%

内置标准器件测试程序,直接调用测试简便

自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线

供灵活的夹具定制方案,兼容性强

免费提供上位机软件及SCPI指令集


典型应用:

纳米、柔性等材料特性分析;

二极管;

MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;

第三代半导体材料/器件;

有机OFET器件;

LED、OLED、光电器件;

半导体电阻式等传感器;

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;

电阻率系数和霍尔效应测量;

太阳能电池;

非易失性存储设备;

失效分析;


系统技术规格


主要性能指标

低压脉冲I-V源测量单元

-精度0.1%
-直流、脉冲工作模式
-Z大电压300V,Z大直流4A或脉冲30A可选
-小电流分辨率1pA

-小脉宽200μs
-四象限工作区间
-支持二线,四线制测试模式
-支持GUARD保护


高压I-V源测量单元
-精度0.1%
-Z大电压1200V,Z大直流100mA

-小电流分辨率100pA
-支持二线、四线制测试模式
-支持GUARD保护

LCR表

-中速100ms模式下,基本精度可达0.05%
- 测试频率1kHz2MHz
-支持高压DC偏置,Z大偏置电压1200V
-多功能AC性能测试,C-V、 C-f、 C-t


硬件指标-IV测试

半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU) ,具有四象限,多量程,支持四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压脉冲SMU,大电压SMU等。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。


灵活可定制化的夹具方案

针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiC MOS等单管产品的测试,也可与探针台连接,实现晶圆级芯片测试,太阳能电池片测试等。











中商贸易网供应商武汉普赛斯仪表有限公司供应电学特性测试系统国产半导体参数测试仪,为您提供详细的产品报价、参数、图片等商品信息,如需进一步了解电学特性测试系统国产半导体参数测试仪,请与厂家直接联系,请在联系时说明是在中商贸易网看到这条商机的。

本产品信息网址:http://www.coai.net/productdetail/4316.html

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