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硅光晶圆多通道测试PXIe源表插卡式数字源表

武汉普赛斯硅光晶圆多通道测试PXIe源表插卡式数字源表支持源表标准SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器(含MPPC/SiPM)、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试

  • 产品单价: 1000.00元/台
  • 产品产地:

    湖北省 武汉市

  • 产品类别:

    切割设备

  • 广告期限:

    长期有效

  • 更新时间: 2026-07-08 09:47
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硅光晶圆多通道测试PXIe源表插卡式数字源表

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产品参数

产品货号:无 产品规格:PXIe-5180
发货期限:自买家付款之日起 3 天内发货 所在地区:湖北省 武汉市
有效期至: 长期有效 品牌名称:

详情介绍

PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,支持10V,500mA直流/脉冲输出,小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器(含MPPC/SiPM)、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。详询一八一四零六六三四七六

产品特性

8个独立的源测量通道,支持并行测试
蕞大支持±10V,±500mA输出
单通道蕞大3W输出/吸收功率,8通道蕞大支持24W
蕞大电流电压分辨率低10pA/100μV
支持脉冲输出,脉宽低100μs,占空比0~100%可调
蕞高支持1MS/s采样率,适合高速信号采集和动态测试
支持0.001~10 NPLC积分时间设置,兼顾高速及高精度测量
支持连续、sweep、序列等多种工作模式
支持8通道外同步触发,极性及占空比可调
支持2线、4线测量,具备Guard输出保护
支持标准SCPI指令集,提供完善的驱动及示例代码

应用范围
半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器、硅光器件特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试

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选择武汉普赛斯的理由

普赛斯加入PXISA联盟,依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台,PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客户欢迎,经过长期的技术沉淀及软硬件迭代升级,确保生产设计符合PXIe标准的模块化仪器。普赛斯为客户提供全套PXIe测试系统,包含系统卡/远程卡、机箱和各种功能模块板卡,并将持续研发投入,推出更多符合市场需求的功能模块板卡,在此基础上提供测试系统解决方案满足客户需求。


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中商贸易网供应商武汉普赛斯仪表有限公司供应硅光晶圆多通道测试PXIe源表插卡式数字源表,为您提供详细的产品报价、参数、图片等商品信息,如需进一步了解硅光晶圆多通道测试PXIe源表插卡式数字源表,请与厂家直接联系,请在联系时说明是在中商贸易网看到这条商机的。

本产品信息网址:http://www.coai.net/productdetail/4387.html

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