liv特性曲线测试恒流脉冲源

LIV60201型liv综合测试仪用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试，以及光谱特性测试（需要外接光谱仪）。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，体积小、测试速度快、精度高，可以极大的提高器件测试的产量和质量。

产品特点

支持脉冲光谱测试 

支持多模TOSA在50um和62.5um光纤传输比对 

支持FP/DFB/VECSEL/DML/EML器件任意封装类型的测试

支持LD反向漏电流测试 

支持LD保护二极管通断测试 

支持MPD暗电流测试，MPD 反压可调 

支持LIV扫描步进时间2ms~6s任意配置 

支持EA的PV曲线测试与ER测试 

支持TEC温度控制，热敏电阻NTC 

提供三个光源输入口，内置PIN、外置PIN接口和积分球接口

内置PIN响应波长范围800~1700nm 

兼容我司LIV-4和LIV-EML的电源连接线，可直接使用

支持本地和远程数据库，支持工业生产MES系统 

可靠的ESD/EOS防护

产品应用

FP/DFB TO-CAN、TOSA测试 

VECSEL TO-CAN、TOSA测试 

EML TO-CAN与 TOSA测试 

DML TO-CAN与TOSA测试 

多路 TOSA(40G/100G BOX)测试

大功率(蝶形封装)TO-CAN、TOSA测试 

LD Chip、Bar测试 

脉冲光谱测试 

TEC温度控制 

多模TOSA在50um和62.5um光纤传输比对

更多有关liv特性曲线测试恒流脉冲源详情找普赛斯仪表专员为您解答，武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、大电流脉冲电源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件测试设备、半导体参数分析仪等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多普赛斯仪表产品信息，欢迎随时咨询普赛斯仪表！